日本語

全自動CDM測試儀  Model CDM-550 系列
CDM-550D/550DQ/550FQ/550DFQ

全自動CDM測試儀 Model CDM-550 系列

當帶有靜電的電子元器件的金屬電極接觸外部的金屬時,或者當導體(如人)金屬接觸到電子元器件的金屬電極時,由於電荷的快速移動而產生的電流從而造成打壞電子元器件的現象經常發生。CDM測試儀就是主要測試電子元器件的抗靜電能力可靠性的測試裝置。

現在市面上很多的CDM測試儀都可以測試被打壞的電子元器件的充放電電壓,但是卻會因為電子元器件的設置測量條件或者測量環境(對地電容)的變化,該測量值也會發生變化。而CDM-550系列卻攻克了這樣的難題,由於電荷量基準的破壞電壓是一定的,它可以直接根據生產現場控制的靜電範圍要求來靈活設置。

Model CDM -550D

直接充電模式的CDM測試裝置。現在在日本國內普及使用的模式。

Model CDM-550-F

感應帶電模式的CDM測試裝置。美國及歐洲國家主要使用的模式。

特徵

  • 符合JEDEC、EIAJ、ESDA規範標準。
  • 直接充電模式CDM測試(Model 550D)
  • 感應帶電模式CDM測試(Model 550F)
  • 感應帶電和直接充電模式CDM測試(Model 550DF)
  • 放電電荷測量功能可選。
  • 穩定的放電電流波形
  • 通過高電壓可測Pin容量
  • 操作簡單可快速找准Pin位置
  • 最多可實現同時測試10顆元器件
  • 可測破壞電壓和破壞能量
  • BGA,TCP測試方便
  • 設計評價、製造工程評價
  • 採用Relay方式
  • 通過區域網路,可控制測試條件並監視測試波形。