ESD/LATCH-UP/CDM/TLP試験装置のご案内です

Test & Measurement Technology

TLPパルスカーブトレーサ モデル4003/4012

Barth Electronics,Inc.

超高速応答のスナップ・バック測定、評価

トランスミッション・ライン・パルス(TLP)テスト・システムは、幅の狭いパルスを使って、20アンペア程度の大電流領域までの電圧(V)/電流(I)特性を測定する、パルスモード・カーブトレーサです。トランスミッション・ラインとは、高周波信号の接続に使用される同軸ケーブルの事です。同軸ケーブルの反射を使用すると、高電圧で、幅の狭いパルスが、比較的簡単な回路構成で得られることから、欧米では古くから、集積回路のESD保護回路の特性解析に使用されてきました。

しかし、回路構成は簡単ですが、立上り部分がきれいで、パルス振幅が安定した波形を得ることは、極めて困難なため、実験室で構築されたTLPテスト・システムは測定の再現性が充分でありませんでした。

BARTH社のTLPは、世界初の商用TLPテストシステムです。この装置で測定しますと、貴社の保護回路の特性が安定していれば安定した曲線が、そうでなければ、折れ曲がった測定結果が得られます。リーク電流の変化を検出することにより、2次降伏電流や、絶縁破壊点を測定することができます。 また、ウェーハプローブ、モデル45001WPを併用すると、ウェーハ上の素子の特性を、測定精度を損なうことなく試験できます。

特長・機能

■モデル4003

TLPパルスカーブトレーサ[モデル4003]



TLPパルスカーブトレーサ[モデル4002]
  • スナップバック特性を再現良く測定
  • 非破壊で測定可
  • 最大20A (30A)でパルス出力
  • 最大1000V (1500V)の高電圧印加
  • 両極性でパルス出力
  • リーク測定機能
  • パルス幅可変 標準100nS、75nS

■モデル4012

超高速応答のスナップ・バック測定、評価
  • 超高速応答のスナップ・バック測定、評価
  • DUT部の電流/電圧測定 最大16A
  • CDMモード等超高速ESD保護回路評価
  • 短波形のパルス幅を可変 最小1nS
  • 立上時間可変 最小100pS

 

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