半導体メモリの、α線、中性子等の放射線に対するソフトエラー評価装置

Test & Measurement Technology

半導体メモリ・ソフトエラー評価装置  モデルSTF5000シリーズ

モデルSFT-5000シリーズ

半導体メモリの、α 線、中性子等の放射線に対するエラーを検出する装置です。比較的少量のサンプルを放射線近傍に設置して行なう加速試験、又は、数百個以上の多数のサンプルを長時間連続して運転しながら、種々の環境でソフトエラーのチェックをするランニング試験のいずれにも構築可能です。

メモリチップにデータを書き込んだ後に、定期的に読み出しを行ないながらソフト・エラーを検出します。書込みパターン、メモリの品種、数量等の変更は、周辺回路及びプログラムの変更で対応します。

仕様例

  • パターン信号発生器・信号入力:
    パターン発生器より信号入力 32cH TTL I/Oモジュール/ユニット
    最大50MHzのタイミング・コントローラ・モジュール
  • バイアス電源(3種): コア電源 I/O電源 回路電源
  • エラー検出: 最大64Kデータの記録
  • 試験デバイス: 最大1024個(4ユニット)
  • テストボード: 32個/ボード
  • ソフトウェア: PCよりGP-IB制御
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