半導体・試料の電気的特性変化を高電圧・高温・多湿環境下で長期監視する耐性評価システム

Test & Measurement Technology

デバイス、試料の劣化および誤動作が引き起こす、事故やトラブルが近年急増しております。当社では、高温・多湿環境下での高電圧加速試験により、お客様の製品に対する耐性評価時間の短縮に協力させていただいております。また放射線によるメモリの誤動作を評価するソフトエラー評価試験装置を製造しております。

ゲート・リーク試験器

  • ゲートリーク(GL)テスタ モデル6900 モデル6900
    ■AEC-Q100-006 REV-Dに準拠
    ■最大電圧: 20KV
    ■自動試験への対応 モデル6900A

高圧エレクトロマイグレーション試験装置

  • エレクトロマイグレーション試験装置 モデル6800シリーズ モデル6800
    ■最大電圧: 2KV
    ■試験デバイス: 最大64個
    ■高温器(オプション)

トランジスタ・FET通電試験装置

  • ランニング(通電)試験装置 モデル6300 モデル6300
    ■各端子の電流値を長期間監視可能なランニング試験装置
    ■試験デバイス: 最大10個
    ■高温器(オプション)

半導体メモリ・ソフトエラー評価装置

  • 半導体メモリ・ソフトエラー評価装置 モデル SFT-5000
    ■α 線、中性子等の放射線に対するエラー検出
    ■試験デバイス: 最大1024個
    ■最大50MHzのタイミング・コントロール