[웨이퍼 / 칩 모델] 반자동 ESD 테스터 | Ecdm-400S 시리즈

웨이퍼 / 칩 / 패키지 반자동 ESD 테스터

Ecdm 400E, 범용 ESD 시뮬레이터를 특징으로하는 반자동 ESD 테스터
수동 웨이퍼 프로빙 시스템 또는 다이 조작기와 함께 사용하면 웨이퍼 또는 다이 레벨 반자동 ESD 테스트와 패키지 디바이스 테스트를 수행 할 수 있습니다.
손상은 V-I 곡선 또는 누설 전류 변화 감지에 의해 감지됩니다.
스트레스 레벨과 측정 포인트는 GP-IB를 통해 개인용 컴퓨터로 프로그래밍됩니다.
테스트 단자가 선택되면 ESD 내구성이 자동으로 측정됩니다.

기능・기능

• MIL, EIA / JEDEC, JEITA, AEC 및 ESDA (HBM 및 MM)와 같은 모든 표준을 충족합니다.
• 웨이퍼 또는 다이의 저가 테스트
• V-I cucrve는 ESD 테스트 중에 PC 디스플레이에서 모니터링 할 수 있습니다.
• 다중 접지 리턴을 통한 전류는 별도로 모니터링 할 수 있습니다.
• ESD 파형은 위와 같이 사용자 사양에 맞게 사용자 정의 할 수 있습니다.
• 게시 된 사양.
• 약간의 프로그래밍과 DUT 보드가 필요 없기 때문에 신속한 테스트가 가능합니다.
• Picoammeter는 옵션으로 제공 될 수 있습니다.