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ESD LATCH UP TESTER 可測最大Pin數: 128 Pins
Model:7500E/7500L/7500EL

モデル7500E
【モデル7500E】

人體放電模式(HBM),機器放電模式(MM)是我們在進行半導體元器件的靜電放電模式的試驗中的主要研究課題。而閂鎖效應對CMOS積體電路的結構性能的影響也是絕不可忽視的重要課題。對最大128Pins數的IC而言,價格優惠的7500系列是很值得推薦的閂鎖效應測試儀。

 

モデル7500EL
【モデル7500EL】

TET7500系列是由被安裝在單軸機器人上的ESD脈衝發生單元決定ESD的測試模式。
使用壽命長,每隔幾年更新一次即可,每次只需更新ESD脈衝發生單元便可升級到最新規格版本。更新後,不僅可以使用舊的規格,也可偵測到瞬態閂縮效應。

 

 

特徵

  • 符合MIL、EIA/JEDEC、JEITA、AEC、ESDA等標準規範。
  • 最大可測128pins,及可實現同時測試10顆元器件。
  • 通過PC顯示器畫面,測量的同時即可觀察採集的V-I特性曲線。
  • 可設置ESD高速加壓模式。
  • 搭配火箭用connector,安全性好,並可耐高溫。
  • 放電波形多元化,不僅可以滿足國內外的用戶,還可以按照元器件公司的指定規格設計。
  • 每個Pin腳搭配一個小PC板,可實現回路中的低阻抗化,方便保護元器件。
  • 可連接局域網,從而實現遠端設定測試條件和測試開始的指令,採集測試資料等
  • 其選項溫度爐可進行高達125℃的閂鎖效應測試。
  • 其選項數碼顯微鏡可偵測閂鎖效應圖形。
  • 可測量閂鎖效應的溫度係數。
  • 可偵測閂鎖效應發生的全過程。
  • 可連接數碼顯微鏡。