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抗靜電能力測試儀 (Wafer/Chip用)
Model Ecdm 400SW

400SW(Wafer用) /400SC(Chip用)

適用於Wafer,Chip,Package形式的元件測試的半自動ESD Tester

ESD/CDMテスタ[400SW/SC]

該Ecdm 400SW是以Ecdm 400E為依託的升級版萬能型半自動抗靜電測試儀。可同時搭配手動探針台或自動探針台使用,自動測量IC晶圓或IC晶片的ESD耐受。甚至測量封裝後的IC晶片。破壞電壓可通過直流測量儀測量的V-I特性曲線或漏電流的變化來檢測。利用PC連接GP-IB卡可設定高壓輸出,被測物的優劣和破壞電壓的測量條件,從而進行測試和判斷。只需手動選擇試驗端子後,即可完成自動測量。

特徵

  • 符合MIL,EIA/JEDEC,JEITA,AEC,ESDA規範標準(HBM,MM)
  • 以低成本完成Wafer或Chip的ESD試驗。
  • 通過PC畫面可邊採集V-I特性曲線邊進行試驗。
  • 如有多根地線,可測量到其中每根地線的電流。
  • 放電波形多元化,不僅可以滿足國內外的用戶,還可以按照元器件公司的指定規格設計。
  • 快速測試,無需DUT板。
  • 亦可搭配皮安(Picoammeter)使用