■低ピン当り価格のモジュール

価格破壊した、デジタル試験サブシステムです。コストパフォーマンスを重視する用途に適しています。試験速度は、最大25MHzです。

VXI、Cサイズ2スロットに96チャンネルのデジタル機能試験装置を集積しております。機器への印加試験パターン、そのI/O制御パターン、対象回路からの期待値パターン、そのマスク・パターン、対象回路からの受信パターン又はエラーを記録するメモリを最大256kワード内蔵しています。さらにこれらのメモリをコントロールするプログラム領域も最大256kワード持っているので、対象回路によってフレキシブルな試験を組むことが出来ます。

全てが25MHzで動作し、5〜10ns分解能で設定できるタイミング、クロック発生器を持っているので、真のファンクション試験を行なう事が出来ます。

特長

• データ速度DC〜25MHz
• 印加、実時間比較、記録
• 2スロット・モジュール1台で96入力、96出力、それぞれ576まで拡張可
• 64Kまたは256Kベクタ
• RAMまたはアルゴリズムによるパターン生成
• エッジ・タイミング設定可能なデータ・フォーマット選択
• 条件パターンループによる実時間試験シーケンス制御
• A32/D32バイナリ転送
• 各種ロジックをサポート
• ガイデッド・プローブ可能

■高性能VXIデジタル試験サブシステム

SR5000は、デジタル信号を最高50MHzで対象回路に印加し、応答を試験します。試験ベクター長は64Kです。

VXI、Cサイズに32チャンネルのデジタル機能試験装置を集積しております。機器への印加試験パターン、そのI/O制御パターン、対象回路からの期待値パターン、そのマスク・パターン、対象回路からの受信パターン又はエラーを記録するメモリを最大64kワード内蔵しています。さらにこれらのメモリをコントロールするプログラム領域も最大64kワード持っているので、対象回路によってフレキシブルな試験を組むことが出来ます。

全てが50MHzで動作し、0.1ns分解能で設定できるタイミング、クロック発生器を持っているので、真のファンクション試験を行なう事が出来ます。

特長

• データ速度DC〜50MHz
• 印加、実時間比較、記録
• モジュール当り16〜32のI/Oチャンネル、640I/Oまで拡張可
• 64Kベクタ／チャンネル
• RAMまたはアルゴリズムによるパターン生成
• 100ps単位でエッジ・タイミング設定可能なデータ・フォーマット選択
• 多重トリガ、最新ロジック解析
• 条件パターンループによる実時間試験シーケンス制御
• A32/D32バイナリ転送
• 各種ロジックをサポート

■ベクタメモリ１MのVXI デジタル・ピンエレ・コントローラ

大形のVXIベース・デジタル試験機に採用いただけます。モジュール1台に、入力チャンネル、出力チャンネル、トライステート・チャンネルを各３２ずつ持ち、ベクタ長は、１Mまたは256Kを選択できます。

特長

• データ速度DC〜50MHz
• 印加、実時間比較、記録
• 差動ECLによる入力、出力、トライステート信号
• 64Kまたは1Mベクタ
• RAMまたはアルゴリズムによるパターン生成
• データフォーマットNRZ、RZ、RONE、RTC、RINH
• 100psのタイミング設定