静電破壊試験をはじめ、静電気監視から対策まで、ESD・CDM・ラッチアップ試験でLED・液晶・半導体メーカーの信頼性向上に貢献します。

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■新製品情報

	【 試験 】 ・ESD試験 ・CDM試験 ・ラッチアップ試験 【 用途 】 ・半導体デバイス ・電子/チップ部品 ・基板実装部品 ・モジュール製品
ESDステーション モデル1100

■PXI・LXI・GPIBモジュール情報

マイクロ波スイッチモジュール	RFスイッチモジュール

弊社は1977年に設立以来、多くの有力企業の半導体、電子部品の開発に貢献してきました。高速・高圧技術を始めとした静電気に関するノウハウをベースに、アナログ信号を高精度に計測・解析する各種製品およびシステムの製造、販売を行なっています。

事業内容紹介

過去の展示会

ESDコーディネーター

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