[다핀 전자동 시험 장치] ESD / LATCH-UP 테스터 | Model 7000X

테스트 및 측정 기술

ESD / LATCH-UP 테스터 Model 7000X

ESD 테스터 Model 7000X-E
LATCH-UP 테스터 Model 7000X-L
ESD/LATCH-UP 테스터 Model 7000X-EL
[Model 7000X]

인체 모델 (HBM), 기계 모델 (MM)의 ESD 테스트는 반도체 소자의 정전기 방전에 대한 신뢰성 시험의 핵심 과제입니다.
또한 LATCH-UP 시험은 주로 CMOS IC의 신뢰성 시험 항목으로 생략 할 수 없습니다.
M7000 시리즈는이 같은 요구에 부응하는 국내외 규격에 대응 한 ESD / LATCH-UP 시험 장치입니다.
M7000 시리즈는 1 축 로봇에 취부 된 ESD 펄스 발생 장치에서 ESD 모델을 결정합니다.
따라서 파형 규격에 대한 대응이 ESD 펄스 발생 장치 (EPG) 만 변경 대응할 수 있고, 장기간 사용하실 수 있습니다.

기능・기능

  • MIL, EIA / JEDEC, JEITA, AEC, ESDA 표준 준수
  • 시스템 핀 수는 최대 1024 핀
  • 시스템 핀의 허용 전류는 최대 2A (1024 핀 사양)
  • 최대 10 장치를 한 번에 시험
  • 시스템 진단 및 파형 진단에 의한 점검 기능
  • 5 년의 보증 기간 (옵션)
  • 안전 대책

ESD 부

  • 최대인가 전압은 8000V
  • 고속 ESD인가 모드
  • 다채로운 핀 조합 시험
  • 정밀 V / I 전원을 사용하여 파괴 판정
  • 고속 파괴 판정 기능 (옵션)

LATCH-UP 부

  • LATCH-UP 검출 전원의 탑재 수는 최대 6 전원
  • Max-Hi Min-Low 3 전원과 클럭 패턴 기능을 표준 탑재
  • 외부 전원 추가 (옵션)
  • 155 ℃의 고온 LATCH-UP 시험 (옵션)
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