[全自动高引脚数] ESD / LATCH-UP测试系统| 型号7000X

测试和测量技术

ESD/LATCH-UP 测试仪 Model 7000X

ESD 测试仪 Model 7000X-E
LATCH-UP 测试仪 Model 7000X-L
ESD/LATCH-UP 测试仪 Model 7000X-EL
ESD/LATCH-UPテスタ[モデル7000X]

HBM 和MM 测试是半导体可靠性的主要 ESD 测试。
此外,在 CMOS 设备上也不能避免闩锁效应测试。M7000 系列是一种支持这些要求以满足全球标准的系统。

特征与功能

  • 符合 MIL、EIA/JEDEC、JEITA、AEC 和 ESDA 标准
  • 系统引脚数量高达 1024 个
  • 系统引脚的最大直流电流:4A
  • 在 DUT 板上测试多达 10 个 DUT
  • 系统和波形诊断
  • 可选 5 年保修
  • 安全功能

ESD 功能

  • 最大 8kV HBM
  • 提供高速载波模式
  • 各种 PIn 组合测试
  • 高精度 V/I 仪表损伤检测
  • 高速损伤检测(可选)

闩锁效应测试功能

  • 多达 6 个闩锁效应检测电源
  • 包含 Max-Hi/Min-Low 和矢量模式的 3 个电源
  • 其他外部电源(可选)
  • 提供 155℃ 闩锁效应测试头(可选)
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